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★二、紫外-可见分光光度计
(一)基本结构:
光源 紫外:氘灯或氢灯;可见: 钨灯或卤钨灯
单色器 色散元件(光栅或棱镜);狭缝
吸收池 紫外: 石英; 可见: 玻璃, 石英
检测器 光电池、光电管、光电倍增管、光二极管阵列检测器
数据记录和处理
(二)仪器的校正和检定
(1) 波长的校正 汞灯或氘灯的特定谱线为参照或钬玻璃的特定波长
(2)吸光度的准确度检定 用重铬酸钾的硫酸溶液
(3)杂散光的检查 一般来源于光学仪器表面的瑕疵
三、 吸光度的测定要求
1. 溶剂 应符合规定
2. 作空白试验校正 目的:消除溶剂和吸收池的影响
3. 测定波长的检查 一般以吸光度最大的波长 max为测定波长,吸收峰的波长应在该品种规定波长的±2%以内,否则应考虑供试品的真伪、纯度及仪器波长正确性。
影响波长检查结果的条件有:供试品的真伪与纯度、溶剂的种类 、仪器波长的正确性
4. 供试品溶液浓度 使吸光度在0.3-0.7范围内
5. 仪器狭缝宽度的选择 调至供试品溶液的吸光度不再增加为止
♣♣四、应用
(一)鉴别 《中国药典》所采用方法:
1. 核对吸收光谱的特征参数:最大吸收波长lmax,吸收系数E1%1cm;吸光度 A
2. 比较吸光度比值: Al1 /Al2®El1/El2
3. 比较吸收光谱的一致性
(二)杂质检查:
依据:药物与杂质的结构不同,故吸收光谱也不同。
1. 药物在紫外可见光区没有明显吸收,所含杂质有较强吸收¾¾少量杂质可用光谱检索出来。
2. 药物有较强吸收;杂质无吸收或很弱¾E(e)¯ 或杂质有更强吸收¾¾ E(e)
规定吸光度的上下限可在一定程度上控制杂质的量
(三)含量测定:
紫外分光光度法用于含量测定的方法有三种:前三种方法
(1)对照品比较法:
AR/AX=ECRL / ECXL =CR/ CX Þ CX=(AX/AR)CR
供试品溶液与对照品溶液浓度C及测定条件应一致,E、L相等
(2)吸收系数法(绝对法):
♣♣♣♣ A=E1%1cm CL ÞC=A/(E1%1cmL)
对仪器须进行严格的校正和检定(波长的准确度、狭缝宽度符合要求),否则影响准确度
(3)计算分光光度法 如双波长分光光度法、导数光普法
主要用于消除样品中干扰组分的干扰
(4)比色法(属于可见分光光度法) 显色剂显色后测定
§2. 荧光分析法
一、基本原理
(一)荧光的产生:某些物质受紫外光或可见光照射激发后,能发射出比激发光波长更长的荧光;除去激发光源,荧光立即熄灭。
荧光的能量小于激发光的能量,波长则长于激发光。
(二)荧光光谱
荧光激发光谱¾¾荧光的激发光波长为横坐标;发射光强度为纵坐标
荧光发射光谱¾¾激发光波长和强度不变,荧光物质的不同荧光波长为横坐标;发射光强度为纵坐标
激发光波长、强度不变,测定用溶剂、温度等条件一定时,荧光强度与物质浓度成正比——定量依据。
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