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X线光检查颌骨密度法

　　X线光检查颌骨骨密度法是依据骨量不同对X线吸收的差异，在X线片上形成不同灰度来测量BMD.将铝制梯级与骨组织同时摄像，得到标准的X线片，通过已知铝制梯级的密度和厚度，估算出被测骨的密度或骨矿含量。Kribbs等应用显微骨密度测量术研究下颌骨密度，即在定位根尖片方放置标准铝制梯级，但此法不适合于无牙颌患者。Atwood和 Cov用头影测量片附加铝制标准梯级测量颌骨密度。 Horner和Delvin等则用曲面断层片附加镍制楔形梯级(0.0326～0.623 mm)，后者克服了铝制梯级(4.5～8.0 mm)较厚的缺点。但X线光密度法是间接测量法，受X线曝光条件、胶片质量、冲洗条件等影响，精度不高。此外，这类方法辐射量较大，将三维结构成像于二维平面上，敏感性亦较差。近年来， 应用计算机数字减影技术对定位根尖片进行分析，有一定应用价值，可重复投照，可对上下颌进行局部的骨密度测定，有利于纵向观察，检测骨质改变的灵敏度亦较高。但由于定位根尖片的投照区域、方法局限，影响了其适用范围。

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